AFM – Microscope à Force Atomique
Description
L’AFM est un microscope à sonde locale qui a pour but d’analyser la topographie de la surface d’un échantillon. Le mode d’observation, basé sur l’analyse de cet échantillon point par point au moyen d’un balayage via une pointe effilée, en silicium par exemple, permet de travailler dans des environnements très variés, y compris le vide ou une atmosphère très pure.
Les forces analysées, magnétiques, électriques et gravitationnelles, étant très faibles, il est nécessaire de rester à des distances très petites pour les mesurer.
Spécifications techniques - Informations
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1985 : JACOMEX fournit la première boîte à gants sur-mesure aux ingénieurs d’IBM avec intégration d’un microscope à effet tunnel permettant de conserver la résolution atomique.
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Aujourd’hui nos ingénieurs maitrisent avec la même perfection, l’intégration des différents modèles d’AFM et proposent des solutions innovantes ayant fait leurs preuves dans les plus grands laboratoires.
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De même, l’analyse ne peut être efficace qu’en absence totale de vibrations extérieures. Le microscope à force atomique est un microscope en champ proche comme le microscope à effet tunnel (STM). Incontournables dans les nanosciences, les nanotechnologies, la science des matériaux… ces instruments permettent une caractérisation de surface très spécifique et précise des échantillons.
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Équipement et caractéristiques
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